光伏组件测试里的EL检测,层压前后有区别吗?
光伏组件测试中的EL检测在层压前后的核心区别在于检测目的、缺陷类型、返工成本及测试安全性,具体分析如下:
检测目的
层压前:以预防性质量控制为核心,通过EL检测排查电池片隐裂、虚焊、断栅等早期缺陷,避免缺陷组件进入层压工序。例如,单晶电池片因晶体结构特性更易隐裂,层压前检测可及时返工,降低废品率。
层压后:以最终质量验证为核心,检测组件在高温高压层压过程中是否因应力导致新缺陷(如玻璃与电池片脱层、EVA气泡等),同时复核层压前未发现的隐性缺陷。
缺陷类型与成像特征
层压前:
1)隐裂:单晶电池片呈“X”状黑线,多晶电池片因晶界干扰可能显示为不规则暗线。
2)虚焊:焊带与电池片接触区域发光强度弱,形成暗斑。
3)断栅:副栅线断裂处无电流注入,EL图像中表现为沿主栅线的暗线。
层压后:
1)脱层:EVA与玻璃或背板分离,导致局部区域无电流通过,EL图像中呈现大面积黑块。
2)气泡:层压过程中空气未完全排出,形成圆形或椭圆形发光异常区域。
3)热斑:隐裂或碎片导致局部电流缺失,长时间运行后可能引发电池片烧毁,EL图像中表现为热点区域。

返工成本与可行性
层压前:组件未固化,返工仅需拆解电池片与EVA,成本较低。例如,某企业数据显示,层压前隐裂返工比例高达60%,但返工成本仅占组件总成本的2%-3%。
层压后:玻璃、EVA、电池片已结合为整体,拆解需高温软化EVA,可能导致电池片二次损伤,返工成本激增至组件总成本的15%-20%,且返工后组件性能可能下降10%-15%。
测试安全性与操作限制
层压前:组件结构松散,EL测试仪的电极夹具易固定,测试过程对组件无物理损伤风险。
层压后:需避免电极夹具划伤玻璃或压碎电池片,且层压后组件重量增加(如60片单晶组件层压后重量达25kg),搬运过程中易因碰撞导致新缺陷。









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