钙钛矿实验室产品
钙钛矿实验室产品

及时、专业的方案,满足不断发展的流体自动化市场对创新、可靠和速度的要求

探针接触式台阶仪

1:配备了各种型号探针,提供了通过过程控制接触力和垂直范围的探头,彩色CCD 原位采集设计,可直接观察到探针工作时的状态,更方便准确的定位测试区域。

直动式传感器


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  • 一、产品介绍

    探针接触式台阶仪基于 Windows 操作系统为多种不同表面提供全面的形貌分析,包括半导体硅片、太阳能基板、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层、平板显示、触摸屏等。使用金刚石(钻石)探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用。该设备能精确可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。

    二,参数介绍

    项目

    详情

    样品台

    1. 样品台尺寸:φ160mm

    2. 最大工件尺寸:φ200mm

    3. 最大工件厚度:52mm

    4. 最大工件重量:2kg

    5. 倾斜调整范围:±2°(±5mm/160mm)

    6. 样品台材质:黑色硬质铝

    7. 手动旋转:360°(手动粗调)、±5°(微调,最小约0.5°)

    传感器

    1. Z方向测定范围:Max. 600µm

    2. Z方向最小分辨率:0.025nm (2,000,000放大倍率时)

    3. 测定力: 10uN ~500uN

    4. 触针半径:2 µm 60° 钻石针头 (另有多种可选)

    5. 驱动方式:直动式

    6. 再现性:1σ= 0.2nm (1um以下台阶时)

    X 轴

    1. 移动量(最大测长):100mm (±50mm)

    2. 真直度:0.2µm/100mm(全量程),5nm/5mm (局部)

    3. 移动,测定速度:0.005~20mm/s

    4. 线性尺(linar scale):X方向分辨率 0.1µm

    5. 位置重复误差:±5um

    Z轴

    1. 移动量:54mm

    2. 移动速度:max.2.0mm/S

    3. 检出器自动停止机能

    Y轴

    1. 移动量:25mm(±12.5mm)

    工件观察

    1. 彩色1/3”CCD,x4物镜倍率

    2. 综合倍率:约320倍 (使用19” monitor时)

    3. 视野:1.2*0.9mm

    4. 观察方向:右侧斜视

    5. 照明:白色LED(可使用软件调整明暗度)

    软件功能

    1. 型号:i-STAR31

    2. 可设定测量条件菜单、重复测量设定、解析菜单

    3. 可设定下针座标,实现定位后自动测量及解析功能

    4. 可设定低通滤波,过滤噪音及杂讯

    5. 具有返回测量启始点功能

    6. 显示倍率:垂直方向50~2,000,000倍、纵方向1~10,000倍

    7. 解析功能:主要图型、段差解析、粗糙度解析、内应力分析、内建多种段差解析菜单可选

    床台

    一体花岗岩

    防振台

    落地型或桌上型

    电源

    AC220V±10%,50/60HZ,300VA

    本体外观尺寸及重量

    W500×D440×H610mm, 120kg,一体花岗岩低重心结构(不含防震台)


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