1:配备了各种型号探针,提供了通过过程控制接触力和垂直范围的探头,彩色CCD 原位采集设计,可直接观察到探针工作时的状态,更方便准确的定位测试区域。
直动式传感器
探针接触式台阶仪基于 Windows 操作系统为多种不同表面提供全面的形貌分析,包括半导体硅片、太阳能基板、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层、平板显示、触摸屏等。使用金刚石(钻石)探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用。该设备能精确可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。
项目 | 详情 |
样品台 | 1. 样品台尺寸:φ160mm 2. 最大工件尺寸:φ200mm 3. 最大工件厚度:52mm 4. 最大工件重量:2kg 5. 倾斜调整范围:±2°(±5mm/160mm) 6. 样品台材质:黑色硬质铝 7. 手动旋转:360°(手动粗调)、±5°(微调,最小约0.5°) |
传感器 | 1. Z方向测定范围:Max. 600µm 2. Z方向最小分辨率:0.025nm (2,000,000放大倍率时) 3. 测定力: 10uN ~500uN 4. 触针半径:2 µm 60° 钻石针头 (另有多种可选) 5. 驱动方式:直动式 6. 再现性:1σ= 0.2nm (1um以下台阶时) |
X 轴 | 1. 移动量(最大测长):100mm (±50mm) 2. 真直度:0.2µm/100mm(全量程),5nm/5mm (局部) 3. 移动,测定速度:0.005~20mm/s 4. 线性尺(linar scale):X方向分辨率 0.1µm 5. 位置重复误差:±5um |
Z轴 | 1. 移动量:54mm 2. 移动速度:max.2.0mm/S 3. 检出器自动停止机能 |
Y轴 | 1. 移动量:25mm(±12.5mm) |
工件观察 | 1. 彩色1/3”CCD,x4物镜倍率 2. 综合倍率:约320倍 (使用19” monitor时) 3. 视野:1.2*0.9mm 4. 观察方向:右侧斜视 5. 照明:白色LED(可使用软件调整明暗度) |
软件功能 | 1. 型号:i-STAR31 2. 可设定测量条件菜单、重复测量设定、解析菜单 3. 可设定下针座标,实现定位后自动测量及解析功能 4. 可设定低通滤波,过滤噪音及杂讯 5. 具有返回测量启始点功能 6. 显示倍率:垂直方向50~2,000,000倍、纵方向1~10,000倍 7. 解析功能:主要图型、段差解析、粗糙度解析、内应力分析、内建多种段差解析菜单可选 |
床台 | 一体花岗岩 |
防振台 | 落地型或桌上型 |
电源 | AC220V±10%,50/60HZ,300VA |
本体外观尺寸及重量 | W500×D440×H610mm, 120kg,一体花岗岩低重心结构(不含防震台) |
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