四探针方阻测试仪-钙钛矿实验室产品-武汉爱疆科技有限公司

四探针方阻测试仪

1：最高电阻精度： 0.05%；电阻最小分辨： 10uΩ

2：最高方阻精度：3 %；方阻最小分辨： 10uΩ:

3：温度补偿功能（TC）；温度基本精度: 0.1 ℃

4：HANDLER/USB/RS232/RS485接口远程控制

5：多种探头可选,测量各种特性材料的方阻电阻率

6：适用于测量半导体、导电薄膜、金属/纳米涂层、太阳能材料、陶瓷等 ,也可直接测量电阻器

7：符合GBT 1551-2009及GBT 1552-1995

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一、产品介绍

四探针方块电阻测试仪是运用四探针测量原理的多用途宽量程综合测量设备, 同时也是电阻率测试仪、电导率测试仪.该仪器是按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M 标准而设计的，可用于测试半导体及其他各种材料电阻率及方块电阻的专用仪器。仪器运用双电测原理，进行多次测量，自动消减样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测相比，大大提高测量精度和一致性。

仪器选配U盘数据记录接口，可方便的进行测试数据的记录；标配USB接口和RS232接口可与电脑相连接；电脑配套操作软件可以方便直观的直接对仪器进行全功能操作、并记录数据，方便对材料进行电气分析。仪器测量精度高、稳定性好、智能化程度高、操作简单、测试结果显示直观，广泛运用于半导体材料厂、科研单位、高等院校等对各种半导体、类半导体材料、导体材料及各种新材料的导电性能的测试。

二、参数介绍

设备名称	四探针方阻测试仪
测量范围	10u Ω~1M Ω
电阻精度	电阻：0.05% 方阻/电阻率： 3%
最大测试电流	100mA
可测量尺寸	根据探头规格来定
测量模式	双电测/单电测可切换
测量参数	电阻/电阻率/电导率
重量	净重约8KG
尺寸	长宽高： 400mm350mm130mm