1:光谱范围:280-1000nm,单点测量时间:≤10s
2:光源:氙灯光源
3:供电电源电压:220VAC,正常频率范围:49-51Hz
4:使用温度范围:20 ~ 26 ℃、相对湿度:35% ~ 60% RH
TAP-101光谱椭偏仪是光伏专用光谱椭偏仪器,系统基于双旋转补偿器调制技术一次性获取 Psi/Delta 、N/C/S 等光谱,可实现光伏硅基底(光片/金字塔制绒面)上单层到多层薄膜的膜厚、光学常数的快速分析表征。
设备名称 | 光谱椭偏仪-TAP-101 |
椭偏仪测头规格 | 1) 光谱范围:280-1000nm 2) 入射角:65。 3) 光斑大小:200 μm 4) 膜厚重复性测量精度:0.01nm(100nm 硅基 SiO2 薄膜;) 5) 膜厚测量范围:0.5nm-10μm 6) 单点测量时间:≤10s 7) 光源:氙灯光源(工作寿命:2,000h) |
样品台规格 | 1) 基板尺寸:最大支持样件尺寸到 210*210mm 方片(向下兼容) 2) Z 轴位移行程:0-10mm 3) 光片 Z 轴手动对焦,绒面 Y 轴手动对焦 |
环境要求 | 1) 椭偏仪承载台:尺寸>1.5m(长) × 1.0 m(宽),承载能力大于 50Kg(建议光学隔振) 2) 使用温度范围:20 ~ 26 ℃ 3) 相对湿度:35% ~ 60% RH 4) 空气压力范围:750~1014 mbar 5) 洁净度: Class 10000 |
能源要求 | 1) 供电电源电压:220VAC 2) 正常频率范围:49-51Hz 3) 相电流:有效值小于 3A(220VAC) 4) 功率:小于 600W(不含电脑等附件) |
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