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爱疆科技IV测试仪可检测TOPCon组件和其他常规组件

爱疆科技IV测试仪可检测TOPCon组件和其他常规组件,其检测能力、技术特点及应用领域具体如下:

一、检测能力覆盖TOPCon与常规组件

爱疆科技IV测试仪(如ZG450、ZG500系列)已升级支持TOPCon电池检测,同时兼容常规组件(如PERC、N型、HJT、薄膜电池等)。设备可测量关键参数包括:

  • 开路电压(Voc):反映组件初始性能与老化程度。

  • 短路电流(Isc):评估极端条件下的电流输出能力。

  • 最大功率点电压(Vmpp)与电流(Impp):直接决定组件输出功率。

  • 填充因子(FF):体现能量转换效率。

  • 转换效率(EFF):综合评估光能转电能能力。

IV测试仪ZG450(1)小图.png

二、技术特点:高精度、稳定性与自动化

  1. 高精度测量

    • 电压/电流测量误差均小于0.2%,测试分辨率达0.003%,确保数据准确性。

    • 辐照度不均匀性<1%(A+级),光谱匹配范围0.875-1.125(A+级),符合IEC60904-9 2020标准。

  2. 稳定性保障

    • 采用长寿命光源(>40000h)和宽辐照度调节范围(200-1200W/m²),适应不同测试场景。

    • 辐照度不稳定性:STI<0.25%,LTI<1%(A+级),确保长期测试稳定性。

  3. 自动化与智能化

    • 支持扫码枪触发测试、数据保存/查询/导出、语音播报、脚踏触发等功能。

    • 配备直观触控屏幕与友好用户界面,简化操作流程。

    • 集成线性扫描、非线性扫描、双扫磁滞模式及IAT测试技术,全面评估电池性能。

IV曲线图-无分档.PNG

三、应用领域:产线、研发与质量检测

  1. 光伏性能测试

    • 用于测量太阳能光伏组件的IV曲线,评估性能参数与健康状况。

    • 适用于TOPCon、PERC等常规组件的产线测试与研发优化。

  2. 半导体电学测试

    • 支持半导体器件的电学性能测试与分析,满足多领域需求。

  3. 科研与教学

    • 作为科研机构和实验室的研究工具,助力电源相关技术研究。

    • 用于教学演示,帮助学生掌握半导体器件测试与分析方法。