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曲线异常排查遮挡是什么意思

“曲线异常排查遮挡”是光伏组件IV测试中针对异常IV曲线的一种系统性分析方法,旨在通过观察曲线特征定位组件内部或外部的遮挡问题(如电池片隐裂、局部污染、焊带偏移等),进而判断其对发电性能的影响。以下是具体解析:

一、遮挡对IV曲线的典型影响

遮挡会改变组件内部电流分布,导致IV曲线出现非线性畸变,具体表现为:

  1. 双峰或多峰现象

    • 原因:部分电池片被遮挡后,电流受限,未遮挡区域仍能产生电流,形成电流“断层”。

    • 示例:某组件IV曲线在0.8Voc处出现第二个电流峰值,经检查发现3片电池片被焊带遮挡。

  2. 填充因子(FF)骤降

    • 原因:遮挡导致串联电阻(Rs)隐性增加,功率损耗集中于遮挡区域。

    • 数据对比:正常组件FF≥80%,遮挡后可能降至60%以下。

  3. 最大功率点(Pmax)偏移

    • 原因:遮挡使组件工作点偏离理论最大功率点,实际输出功率低于标称值。

    • 案例:某电站组件标称功率550W,实测Pmax仅480W,排查发现10%面积被鸟粪遮挡。

便携式IV测试仪.png

二、曲线异常排查遮挡的步骤

1. 初步观察曲线形态

  • 双峰曲线:可能为局部遮挡或电池片串联失效。

  • 曲线“断点”:可能为隐裂或焊接不良导致的电流中断。

  • Voc显著降低:可能为大面积遮挡或并联电阻(Rsh)下降。

2. 结合EL测试定位缺陷

  • EL成像原理:通过电致发光检测电池片内部缺陷(如隐裂、断栅、黑斑)。

  • 遮挡与EL图像关联

    • 遮挡区域在EL图像中表现为暗区(电流无法通过)。

    • 案例:某组件IV曲线填充因子仅65%,EL测试发现2片电池片存在“十字”隐裂。

3. 分片测试验证

  • 方法:将组件拆分为若干电池串,单独测试IV曲线。

  • 目的:定位具体遮挡的电池串或电池片。

  • 示例:某组件由6串电池组成,其中1串IV曲线异常,进一步检查发现该串焊带偏移。

4. 红外热成像辅助分析

  • 原理:遮挡区域因电流受限,发热量低于正常区域。

  • 应用:通过热成像仪快速识别组件表面温度分布异常点。

  • 案例:某屋顶BIPV组件表面温度不均,热成像显示西北角温度低5℃,排查发现该区域被树叶遮挡。

EL便携式 图片1.png

三、常见遮挡类型及排查要点

遮挡类型IV曲线特征排查方法
电池片隐裂曲线断点、FF降低EL测试+分片测试
焊带偏移/虚焊双峰曲线、局部电流受限目视检查+红外测温
表面污染(鸟粪、灰尘)Voc降低、Pmax下降目视检查+清洁后复测
玻璃划痕/裂纹曲线波动、局部漏电红外热成像+绝缘耐压测试
背板鼓包/分层串联电阻增加、曲线整体下移目视检查+剥离强度测试

四、遮挡问题的解决方案

  1. 生产阶段

    • 优化工艺:采用激光焊接、智能排版机减少焊带偏移。

    • 质量控制:增加EL测试环节,隐裂检出率提升至99.8%。

    • 案例:某组件厂通过改进层压工艺,将背板鼓包率从0.5%降至0.1%。

  2. 运维阶段

    • 定期清洁:根据环境制定清洁周期(如沙漠地区每月1次,城市地区每季度1次)。

    • 智能监控:部署无人机巡检+AI图像识别系统,自动检测遮挡缺陷。

    • 案例:某电站通过无人机巡检发现5%组件被杂草遮挡,清理后年增发电量12万kWh。

  3. 设计优化

    • 抗遮挡设计:采用旁路二极管分片保护,单片遮挡时仅损失1/6功率。

    • 材料升级:使用自清洁玻璃(如纳米涂层)减少灰尘附着。

五、技术延伸:动态遮挡测试

针对高电容组件(如N型TOPCon),传统静态IV测试可能因电容充放电导致曲线畸变。动态IV测试技术通过高频采样消除电容干扰,可更精准地捕捉遮挡引起的瞬态电流变化,成为行业新标准。