晶硅产线
晶硅产线

及时、专业的方案,满足不断发展的流体自动化市场对创新、可靠和速度的要求

在线式EL外观一体机 ZQ500

◆ 多相机拍摄有效像素高达6300万以

◆ 4K显示器无损显示图片

◆ 空间分辨率<0.3线对

◆ 外观AOI检测


关键词:

ZQ500.gif

一、产品介绍

ZQ500组件在线式EL外观一体机,与产线配套,实现自动上下料、自动测试,使用多相机直射式拍摄,能清楚检测出组件的微隐裂、碎片、低效片、烧结网纹、网印堵孔、材料缺陷、焊接缺陷、工艺过程污染等,用于薄膜层压前、后检测。

二、性能特点

◆ 无损图片:采用多相机组合式拍摄,算法合成成像效果更清晰

P1:组件EL影像

101.jpg

P2组件外观影像

企业微信截图_1654760724201.png

◆ 模块化设计:可根据客户要求选配外观AOI检测功能,智能识别缺陷类型

◆ 模式多样化:设备运行模式有检测模式、流水模式,具备一键切换

◆ 可测缺陷:黑心片、微隐裂、裂片、破洞、断栅、焊接缺陷等,

◆ 程控电源:采用新工艺的程控恒流电源,输出纹波小,有效保障成像清晰度,电源参数可定制,最高可达200V/20A,具备高/低电流模式切换

三、技术指标

设备型号ZQ500
生产指标
测试节拍20s/pcs (配线典型值)
最大可测面积2500mm X 1500mm
适用工序层压前、后组件测试
上料方式流水线工装
测量指标
相机分辨率

EL检测:1920*120*4*3    外观检测:4000*5000*4*3

相机类型CCD
曝光时间1~30S (可调)
显示器4K 50英寸屏幕X2 (可选配移动支架)
电源类型可编程电源
电压范围0~60V连续可调(参数可定制)
电流范围0~20A连续可调(参数可定制)
EL检查缺陷类型

高电流:隐裂、碎片、低效率片、烧结网纹、材料缺陷、断栅

低电流:低效片

外观检测功能

真实的外观图象显示,辅助诊断主栅露白、污染、缺角、崩边、异物等缺陷;

软件处理

局部放大、条码显示、本地数据查询、MES 系统对接、高电流检测、低电流检测、外观AOI智能缺陷检测、支持脚踏触发、扫描枪触发,具有过流保护

图像储存手动/自动扫描条形码编号,以编号名称作为文件名进行保存
电气指标
故障报警实时故障报警
人机界面组态屏
运动控制单元采用触摸屏与PLC通讯,实时显示当前状态对流程进行监控
工作环境温度: 25C士10°C; 相对湿度:≤85%
电源AC220V/50Hz/15A
压缩空气气压: 0.5-0. 8MPa,耗气量: 0.3 m2/min
设备尺寸

3020mm*2600mm*1650mm(进料高度950mm)

3020mm*2600mm*2100mm(含显示器)