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产品简介：
四探针测试仪是一种用于测量材料电阻率和薄膜厚度的仪器，适用于半导体材料、电导材料以及薄膜材料的研究和开发，广泛应用于半导体技术、材料科学、电子工程等领域。
1. 可测量不同形状和尺寸的样品
2. 具备高精度电阻测量和高灵敏度
3. 具备高可靠性，确保结果的一致性和可重复性
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