100MHz数字测试系统-半导体检测产品-武汉爱疆科技有限公司

100MHz数字测试系统

1：10个通用标准PXI 3U插槽，可全部用于数字、模拟和混合信号测试应用。

2：时钟频率100MHz,数据率100Mbps。

3：定时集精度：最高1nS。

4：数字通道带perpin PMU功能和perpin频率测量功能。

5：可适配市面通用PXI总线功能板卡。

6：提供大功率测试电源。

7：提供大面积DUT测试区域。

8：灵活方便的POGOPIN测试头连接方式。

9：支持Windows7/Windows 10 操作系统。

10：风冷散热，提供风扇手动和自动PWM调节功能。

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一、产品介绍

竞争日益激烈的半导体产业必须依靠高度集成、先进和高性价比的设备以在行业中占据优势位置。 100MHz数字测试系统具有灵活的配置，多种可选配功能，例如AD /DA转换器测试、高电压高密度SMU和类比测试，使其能广泛的应用于多种不同的需求场合。该设备特别适合用于数字类芯片测试，同时也可用于SOC类产品测试，搭配多种不同的PE板卡、 SMU板卡、浮动电源卡和AD/DA板卡，可涵盖高精度、高电压和大电流的测试需求。 100MHz数字测试系统具备完整的测试功能、高精准度、强大的测试软件和出色的可靠性，是测试高性能MCU 、数字IC 、消费性SOC的理想选择，凭借高测试效率和高并测能力，DVS5901可以为设计公司、IDM和测试厂提供最具性价比的测试解决方案。

二、参数介绍

项目	参数
PXI总线插槽数量	10
最大PE数字通道数	256
最大SMU通道数	32
最大工作频率	100Mhz
测试数据率	5Kbps to 100Mbps
最小定时集设置分辨率	1ns
向量存储深度	64M
工作温度	0 °C to +55 °C
电源功率	800W MAX

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