产品中心

一：产品介绍

本系统利用特定激光器，经光学系统得到方形激光光斑，光斑面积达230mmX230mm。在激光光斑作用下，硅片或电池片激发出红外光，经红外相机采集硅片或电池片的红外图像，利用红外图像进行缺陷检测。

该PL检测仪适用于单晶或多晶的硅片和电池片，可独立成设备，也可嵌入产线，进行在线检测。

可检测的缺陷包括黑心、黑边、黑团块、隐裂、裂纹、碎片、低效片、黑线、缺角、崩边等。该系统采用深度学习与人工智能算法，可实现单晶和多晶的各种缺陷自动识别。

该系统已成功用于某光伏设备制造企业。在此基础上可根据客户具体要求进行定制开发。

二：参数介绍